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DT40P , 低价格、半导体硅片红外测温仪 , 300~1300°C ,3.43μm

规格:DT40P , 300~1300°C ,3.43μm

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性能标签:

低价格 , 半导体硅片测温专用型DT40P , 300~1300°C ,400~1400°C ,500~2500°C , 3.43μm , 还适合聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙类 塑料薄膜 测温


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产品详细描述


 

低价格、半导体硅片测温专用型

 

红外测温仪DT40P


测温范围:300~1300°C ,400~1400°C ,500~2500°C


波长:3.43μm

 

最小可测目标:Φ1.6mm @ 95mm

 

 

主要应用:

 

1) 半导体制造硅片测温


2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙)

 

 

 性能指标

 

型号 DT40P
测温范围 300~1300°C (无瞄准 或 可选 外置激光瞄准灯)
400~1400°C * , 500~2500°C * (无瞄准 , 可选内置LED瞄准灯)
主要用途 半导体生产硅片测温,聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙类塑料薄膜
光谱范围 3.43µm
光学系数 100,3008001200
距离系数 50:1
测量误差1 1.0%测量值或1 K
重复精度1 0.5%测量值或0.5 K 
NETD2 0.1°C
响应时间(t95) 60ms~100s, 可调
发射率 0.200~1.000
瞄准 *标注的为无瞄准(可选外置激光瞄准灯) *标注的可选内置LED瞄准灯
可调参数 发射率, 响应时间, 温度单位°C°F, 存储方式, 子测温范围, 可通过USB通信接口和软件调整
供货范围 DT40P,操作手册,安装螺母,检测单,Windows®PYROSOFT Spot,连接电缆需单独订货
1经过黑体炉标定, Tamb=23°C, ε=1, t95=1s, 取最大值 2噪声等温差.  3  *可选内置LED瞄准.  

 

半导体材料测温用红外测温仪主要型号:

 

1、高精度硅片测温、塑料薄膜红外测温仪DY10P

 

2、低价格硅片测温红外测温仪DT40P

 

3、可选:低价格硅片测温红外测温仪DT40F(带特殊镜片)

 

 

 

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