现在位置:首页>网站公告

低价格、半导体硅片红外测温仪DT40P , 300~1300°C


 

低价格、半导体硅片红外测温仪DT40P  , 300~2500°C 

 

测温范围:300~1300°C ,400~1400°C ,500~2500°C

波长:3.43μm

最小可测目标:Φ1.6mm @ 95mm

 

主要应用:

 

1) 半导体制造硅片测温


2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙)

 

详细浏览:德国DIAS硅片测温红外测温仪DT40P

 



销售
销售
邮件
咨询
联系
我们